多功能高速導通電阻測試能夠在定點溫度、高溫高濕、高低溫冷熱沖擊、高低溫快速溫度循環、高度加速壽命試驗，各種可靠度環境試驗下，高速量測、紀錄、數據分析各種材料與焊點，如：FPC、PCBA、電阻、電感、 電容、BGA、CSP焊點、先進封裝(Sip、SoC、WLP、PLP、FOWLP、3D-IC、FCin MCep、FCBGA、 Fc CSP等)的接合度可靠性，協助客戶快速有效分析產品。

射頻泄漏測試設備中被測產品：同軸連接器、電線電纜組件。被測產品大尺寸：半徑500mm。測試頻率：1GHz---18GHz，被測產品大屏蔽效能：110dBm測試方法：混響室測試法。測試使用標準：GJB1217A-2009中的3008方法及MIL-STD-1344A 的3008方法。

耐射頻高電位電壓測試儀是射頻連接器中用的絕緣材料測試，輸出電壓為：200V~3000V（有效值）正弦電壓。輸出電壓大小在該范圍從小到大或從大到小可連接在任一電壓點設定，試驗。輸出的頻率范圍為：5~7.5MHZ。

電暈電平測試系統是根據標681A中耐射頻高電位電壓的試驗要求，為滿足周期試驗及工藝試驗要求，試驗需要的指標范圍為：$n指標1：海拔高度：21336米（氣壓值4.4Kpa）；$n指標2：有能指示電暈放電的設備；$n指標2：輸出電壓值：0～5000V。